ZoomOptics可獲得更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,無(wú)測(cè)量誤差
ZoomOptics系統(tǒng)優(yōu)化了探測(cè)器的視野,從而消除了孔徑光闌造成的任何影響。結(jié)果是測(cè)量結(jié)果的精度顯著提高。
超薄樣品測(cè)量數(shù)據(jù)的超快記錄(2MHz)
薄膜和高導(dǎo)電性材料需要非常高的數(shù)據(jù)采集速率,以準(zhǔn)確記錄樣品上表面的快速溫度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采樣率,這是LFA系統(tǒng)的價(jià)值。
性能特點(diǎn)LFA 467 HyperFlash采用單一儀器設(shè)置,即無(wú)需更換探測(cè)器或熔爐,即可在-100 C至500 C之間進(jìn)行測(cè)量。再加上市場(chǎng)上廣泛的配件,該儀器為測(cè)定熱物理性質(zhì)開(kāi)辟了全新的領(lǐng)域。
由于16個(gè)樣品的樣品架,樣品吞吐量高出4倍LFA 467 HyperFlash的一個(gè)獨(dú)特優(yōu)勢(shì)是能夠在整個(gè)溫度范圍內(nèi)同時(shí)測(cè)量多達(dá)16個(gè)樣本。這允許以更小的操作時(shí)間和工作量輸入實(shí)現(xiàn)更大的樣本吞吐量。
再填充系統(tǒng)可用于探測(cè)器和熔爐上杜瓦瓶的自動(dòng)再填充,允許LFA系統(tǒng)24小時(shí)不間斷運(yùn)行。
技術(shù)參數(shù)縮放光學(xué)系統(tǒng):優(yōu)化的視野(可選,不需要遮罩)
脈沖映射:用于有限脈沖校正和改進(jìn)的cp測(cè)定
紅外探測(cè)器
InSb:RT 500 C MCT:-100 C 500 C 探測(cè)器補(bǔ)充裝置(可選)大氣:惰性、氧化性、靜態(tài)和動(dòng)態(tài)
真空: 150毫巴
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